Метод объемного цилиндрического резонатора H01p для исследования диэлектриков на СВЧ

Page 1
background image

Page 2
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

90

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

Для исследования слабопогло-

щающих диэлектриков, применяемых 
в качестве электрической изоляции 
кабельных изделий, удобным являет-
ся метод цилиндрического объемного 
резонатора с колебанием 

H

01p

. Данный 

метод широко используется для изме-
рения относительной диэлектричес-
кой проницаемости 

ε

 и тангенса угла 

диэлектрических потерь tg

δ

 полиме-

ров (ПЭ, ПТФЭ и их производных) на 
СВЧ [1—4]. Метод рекомендован стан-
дартом IEC (Международная электро-
техническая комиссия — МЭК) [5] и его 
отечественными аналогами [5, 6]. Сле-
дует отметить, что расчетные формулы 
для tg

δ

 в рекомендациях [6, 7] разли-

чаются между собой и дают разные ре-
зультаты. В России с 01.06.2008 введен 
ГОСТ Р 8.623-2006 [8], в котором метод 
изложен с уточнениями [9].

В ФГУП «ОКБ КП» используется 

измерительная установка с цилин-
дрическим резонатором ОР-4 на ко-
лебании 

H

014

 (разработчик — Восточно-

Сибирский НИИ физико-технических 
и радиотехнических измерений, г. 
Иркутск) (рис. 1, 2). Установка предна-
значена для исследования характери-
стик твердых диэлектриков в форме 
дисков на частотах диапазона от 9 до 
10 ГГц. Диапазон измеряемых на уста-

новке значений 

ε

 варьируется от 1,2 

до 10, диапазон измерения tg

δ

 — от 

3·10

-5

 до 5·10

-2

. Используемый метод 

соответствует ГОСТ Р 8.623 — 2006 и 
заключается в измерении параметров 
цилиндрического 

H

01p

-резонатора 

без диэлектрического образца и с об-
разцом в виде диска на подвижном 
бесконтактном поршне при неизмен-
ной резонансной частоте (рис. 3). Ис-
ходными параметрами для расчета 

ε

1

 

и tg

δ

 образца являются: длина пустого 

резонатора 

L

0

, его резонансная часто-

та 

f

0

 и добротность 

Q

0

, диаметр резона-

тора 

D

 = 2

a

, перемещение подвижного 

поршня Δ

L

, необходимое для восста-

новления резонансной частоты 

f

ε

 по-

сле помещения образца в резонатор (

f

ε

 

= f

0

), толщина образца 

t

 и добротность 

резонатора с образцом 

Q

ε

.

В стандарте [7] вместо добротности 

Q

0

Q

ε

 измеряется ослабление, вно-

симое в тракт пустым резонатором и 
резонатором с образцом. Различие 
расчетных формул для tg

δ

 в докумен-

тах [5—7] связано с различными вари-
антами метода и приближениями. Од-
ним из приближений является замена 
собственной добротности пустого ре-
зонатора 

Q

00

 и резонатора с образцом 

Q

 на нагруженную добротность 

Q

0

Q

ε

Используемые обычно приближения и 

упрощения могут приводить к значи-
тельным погрешностям, в частности, 
к «отрицательным» значениям tg

δ

 при 

измерении слабопоглощающих мате-
риалов. Причина этого рассмотрена 
в [9], где предложен вариант метода 
измерения, свободный от упомянутых 
допущений и устраняющий появление 
«отрицательных» tg

δ

. Диэлектричес-

кая проницаемость образца рассчиты-
вается как [9]

 

(1)

где 

x

 = 

h

1

t

 находится из уравнения

 

(2)

и учтены равенства 

L

ε

 = L

0

 – Δ

L

h

2

L

0

 = 

p

 = 1, 2, 3, 4... — число полуволн 

в пустом резонаторе; 

q

 = 0, 1, 2… — 

число полуволн (максимумов элек-
трического поля) на толщине образца; 

h

i

 — продольное волновое число в 

заполненной образцом (

i

 = 1) и пустой 

(

i

 = 2) частях резонатора, 

h

i

2

 = 

k

i

2

 – 

χ

2

 

ω

 = 2

πf

ε

 — круговая 

резонансная частота, 

χ = ν

11

/

a

 — по-

перечное волновое число резонатора, 

ν

11

 = 3,831706 — корень функции Бес-

Метод объемного 
цилиндрического резонатора 

H

01p

 для исследования 

диэлектриков на СВЧ

В.Н. Егоров, В.В. Костромин, Б.С. Романов


Page 3
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

91

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

селя 

J

1

(

z

), 

ε

1

 — диэлектрическая прони-

цаемость измеряемого образца (

i

 = 1) 

и воздуха в «пустой» части резонато-
ра (

i

 = 2) относительно вакуума (при 

нормальных условиях 

ε

2

 = 1,00058), 

c

 = 299,792458·10

9

 мм·с

-1

 — скорость 

света в вакууме. 

Метод определения тангенса угла 

диэлектрических потерь tg

δ

 основан 

на измерении собственной доброт-
ности резонатора с исследуемым об-
разцом диэлектрика и сравнении ее 
с собственной добротностью резона-
тора без образца с учетом изменения 
распределения поля и омических по-
терь в стенках резонатора после вве-
дения исследуемого образца. Отличие 
«омической» добротности резонатора 
с образцом 

Q

R

 от собственной до-

бротности резонатора без образца 
(имеющего только омические поте-
ри) 

Q

00

 удобно выразить параметром 

η = Q

00

Q

R

. Тогда выражение для tg

δ

 

примет наиболее общий вид [9]

 (3)

Для расчета tg

δ

 по (3) необходимы 

значения собственной добротности 
пустого резонатора 

Q

00

 и резонатора 

с образцом 

Q

, которые определяются 

экспериментально, и величины 

K

1

E

 

η

Для расчета параметров 

K

1

E

 

η

 необхо-

димо, в частности, вычислить полный 
запас энергии и мощность омических 
потерь в резонаторе с образцом (а не 
только в пустом резонаторе, как это 
часто делается для упрощения). Коэф-
фициент заполнения резонатора 

K

1

E

 

выразится как [9]

 (4)

где

 

 

Параметры Ф

1

, Ф

2

 учитывают пере-

распределение энергии между об-
разцом и пустой частью резонатора 
при отклонении толщины образца 
от полуволновой (кратной ей), когда 
Ф

1

 = Ф

2

 = 1. Отметим, что 

K

1

E

 является 

осциллирующей функцией электри-
ческой толщины образца 

x

 с миниму-

мами при полуволновой и кратной 
ей толщине образца (за исключением 
полностью заполненного резонатора). 
Размах осцилляций возрастает с ро-
стом 

ε

1

 измеряемого образца. 

Выражение для 

η

 имеет вид [9]

 (5)

где 

 

геометрический фактор пустого 

H

0тр

 резо-

натора, 

G

 = Δ

0

Q

00

, Δ

0

 — глубина скин-слоя в 

стенках резонатора. 

Наиболее существенными источ-

никами погрешности измерения   дан-
ным методом являются погрешность 
измерения толщины образца, пере-
мещения поршня резонатора, необхо-
димого для восстановления резонанс-
ной частоты после введения образца в 
резонатор, и погрешность измерения 
собственной добротности резонато-
ра. Измерение перемещений поршня 
с неопределенностью 1 мкм произво-
дится преобразователем линейных пе-
ремещений ЛИР-17 с устройством циф-
ровой индикации ЛИР 511. Измерение 
собственной добротности резонатора 
осуществляется с помощью поляриза-
ционного аттенюатора Д3-33А, что по-
зволяет исключить неквадратичность 
характеристики СВЧ детектора и изме-
рять коэффициенты связи резонатора 
с трактом. Используемый резонатор 
ОР-4 с внутренним диаметром 50 мм 
обладает на частоте 9,365 ГГц доброт-
ностью 30 000 на колебании 

H

014

Структурная схема установки при-

ведена на рис. 1. Сигнал СВЧ генерато-
ра 

1

 подается на частотомер 

2

 и через 

развязывающий ферритовый вентиль 

4

 и поляризационный аттенюатор 

5

 — 

на измерительный резонатор 

6

. С вы-

хода резонатора сигнал поступает на 

              

1

              

3

              

2

              

4

              

5

              

6

              

7

              

9

              

8

Рис. 1. Структурная схема измерительной установки:

1

 — генератор СВЧ; 

2

 — частотомер; 

3

 — индикатор резонанса (осциллограф) 

с выходом напряжения развертки; 

4, 7

— развязывающий вентиль;

5

 — аттенюатор поляризационный волноводный;

6

 — измерительный резонатор; 

8

 — детектор СВЧ; 

9

 — вольтметр


Page 4
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

92

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

развязывающий вентиль 

7

 и далее на 

СВЧ детектор 

8

, выходное напряжение 

которого наблюдается на индикаторе 
резонанса 

3

 и измеряется вольтметром 

9

. Генератор СВЧ 1 работает в двух ре-

жимах: непрерывной генерации (НГ) и 
линейной частотной модуляции (ЛЧМ) 
сигналом пилообразного напряжения 
горизонтальной развертки индикатора 
резонанса 

3

. Измерение резонансной 

частоты, нагруженной добротности и 
вносимого резонатором ослабления 
проводится в режиме НГ. 

Внешний вид действующей уста-

новки приведен на рис. 2.

В измерительной установке приме-

нены следующие серийные приборы и 
оборудование:

1. Генератор СВЧ Г4-83 (Г4-111);
2. Аттенюатор поляризационный 

волноводный Д3-33А;

3. Частотомер Ч3-69, (Ч3-61, Ч3-54 с 

блоком Я3Ч-88 или Я3Ч-43);

4. Вентиль ферритовый 3ВВС-100;
5. Датчик перемещения ЛИР-17 с 

устройством индикации ЛИР-511;

6. Микрометр МК-25;
7. Вольтметр В7-40 (В7-32);
9. Осциллограф С1-76.
10. Измерительный резонатор с ко-

лебанием Н

014

 (его схематическое изо-

бражение приведено на рис. 3).

В последнем варианте установки 

вместо генератора, частотомера, поля-
ризационного аттенюатора, детектора 
СВЧ, вольтметра и осциллографа ис-
пользуется измеритель модуля коэффи-
циента передачи и отражения Р2М-18. 

Измерительный резонатор должен 

иметь собственную добротность не ме-
нее 30 000, переходное ослабление на 
резонансной частоте не менее 30 дБ и 
механизм перемещения подвижного 
поршня не менее 25 мм с погрешно-
стью отсчета положения поршня не 
более 0,005 мм. Измеряемый обра-
зец должен входить в резонатор без 
усилий и свободно выходить из него 
под собственным весом, оставаясь на 
поршне при его отводе вниз. 

Геометрические размеры образца 

и допуски:

• диаметр образца  —  49,9

-0,1

 мм;

• отклонение от плоскопараллель-

ности торцевых поверхностей образ-
ца — не более 0,02 мм;

• неперпендикулярность боковой 

поверхности образца к торцу — не бо-
лее 0,02 мм.

Толщину образца 

t

 вычисляют по 

формуле:

где 

λ = с

/

f

0

 — длина волны в свободном 

пространстве на частоте измерения, мм; 

ε

1

 — диэлектрическая проницаемость 

материала образца, взятая из априор-
ных данных или из анализа измерений 

образцов разной толщины из одного 
материала; 

a

 — радиус резонатора, мм; 

m

 — целое число, равное 1, 2, 3...

Предпочтительнее для измерений 

использовать образцы полуволновой 
толщины (

m

 = 1). Толщину образца из-

меряют в десяти точках с погрешностью 
не более ±0,01 мм и усредняют.

Диэлектрическую проницаемость 

ε

1

 исследуемого образца относитель-

но вакуума вычисляют по формуле 
(1). При необходимости диэлектриче-
ская проницаемость образца относи-
тельно окружающей среды (воздуха) 
может быть пересчитана как 

ε = ε

1

/

ε

2

Тангенс угла диэлектрических потерь 
tg

δ

 исследуемого образца вычисляют 

по формуле (3). Контроль точности 
результатов измерений проводится 
путем измерения диэлектрической 
проницаемости и тангенса угла диэ-
лектрических потерь государственных 
стандартных образцов ГСО 1683-79, 
ГСО 1555-79, ГСО 50090-89 и стандарт-
ных образцов предприятия ДПФТД, 
ДПКРД, ДПСТ38Д в соответствии с ин-
струкцией по их применению. 

Точностные характеристики методи-

ки даются в терминах неопределенно-
сти измерений [10]. Анализ точности из-
мерения в 

H

01p

-резонаторе проводился 

в работе [11]. Расширенную неопреде-
ленность измерения диэлектрической 
проницаемости 

U

ε

 определим по типу В 

[10] через функцию 

ε

1

 = 

ε

1

(

u

) от входных 

величин 

u

i

 = 

f

0

t

a

x

, ε

2

 при коэффициен-

те охвата 

k

 = 2 и доверительной вероят-

ности 

p

 = 0,95. Коэффициенты влияния 

находятся обычным образом с учетом 
неявно заданных в (1), (2) функций 

x = x

 

L

t

h

2

), 

h

2

 = 

h

2

 (

f

0

a

ε

2

) и имеют вид 

 L

0

 

  2  

  1  

 

D

 

  ∆

L

 

 t

 

 L

ε

 

 

z

 

  3  

Рис.3. Схематическое изображение 
резонатора:
1 — исследуемый образец;
2 — резонансная полость;
3 — подвижный поршень

Рис. 2. Внешний вид измери-
тельной установки


Page 5
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

93

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

(6)

где 

 

В таблице 1 приведены типичные 

значения границ относительной нео-
пределенности входных величин 

δu

i

 

для расчета расширенной неопреде-
ленности по 

ε

1

 и tg

δ

.

Таблица 1. Значения относительных 

неопределенностей входных величин

δ

Δ

L

δt

δa

δf

0

δQ

ε

5×10

-4

4×10 

-4

4×10

-5

10

-7

2×10

-2

δQ

0

δη

δε

2

δL

δK

1

E

2×10

-2

10

-2

6×10

-5

2×10

-4

10

-2

В предположении равномерного 

распределения составляющих 

δu

i

 рас-

ширенная неопределенность 

ε

1

 по 

типу В выразится как 

(7)

где 

C

i

 = 

C

Δ

L

C

t

C

a

C

f

 

C

ε

2

 и 

δu

i

 = 

δ

L

), 

δt

δa

δf

0

δε

2

В таблице 2 представлены значения 

коэффициентов влияния, результаты из-
мерений 

ε

1

 на частоте 9,365 ГГц в резо-

наторе диаметром 50,0 мм и расширен-
ная неопределенность 

U

ε

 для образцов 

с толщиной, близкой к полуволновой.

Как видно из таблицы 2, при толщи-

не образцов, близкой к полуволновой 
(

x ≈ π

), максимальное влияние оказы-

вают неопределенности величин Δ

L, a

ε

2

. Эта закономерность сохраняется и 

для образцов с толщиной, кратной по-
луволне: 

x = qπ, q

 =1, 2, 3… При электри-

ческой толщине образца 

x = π

 (2

q

 + 1)/2, 

q

 = 0, 1, 2… (нечетное число четвер-

тей длины волны) наибольший вклад 
в расширенную неопределенность 

ε

1

 

дает неопределенность измерения 
толщины образца 

δt

. Неопределен-

ность настройки на резонанс (вос-
становления резонансной частоты) 

δf

0

 ≈ (10

-2 

÷10

-3

) · 

Q

ε

-1

 ~ 10

-6 

÷10

-7

, несмотря 

на большие значения коэффициента 

C

не оказывает существенного влияния 
на конечный результат при измерениях 
образцов с 

K

1

E

 · tg

δ

 <10

-4

.

В общем случае вид зависимости 

U

ε

  (

x, 

ε

1

) определяется соотношением 

вклада 

δt

, имеющего минимумы при 

x

 = 

 и максимумы при 

x = π

 (2

q

 + 1)/2, 

и вкладов 

δ

L

), 

δa,

 имеющих миниму-

мы при 

x = π

 (2

q

 + 1)/2 и максимумы при 

x = qπ. Глубина осцилляций 

U

ε

 (

x

ε

1

) убы-

вает с ростом x и возрастает с ростом 

ε

1

. При указанных в таблице 1 значениях 

δ

L

), 

δa

δt

 и 

x

 ≈ 

π

, значение расширен-

ной неопределенности 

ε

1

 не является 

минимально возможным. Зависимость 

U

ε

  (

x, ε

1

) (рис. 5) в этом случае имеет 

максимумы в окрестностях 

x = qπ

, и ми-

нимумы в окрестностях 

x = π

 (2

q

 + 1)/2, 

что говорит об основном вкладе в 

U

ε

 

величин 

δ

L

), 

δa

, а не 

δt

. Для преобла-

дающего вклада 

δt

 зависимость 

U

ε

 (

x, ε

1

имеет вид, представленный на рис. 6. 

Рассмотрим неопределенность из-

мерения tg

δ

 в соответствии с форму-

лой (3). В данном методе измерение 
собственной добротности пустого ре-
зонатора 

Q

00

 и резонатора с образцом 

Q

 производится на одной частоте 

при близких значениях мощности на 
выходе резонатора. По этой причине 
существующие систематические по-
грешности при измерении 

Q

00

 и 

Q

 

оказываются в значительной степени 
компенсированными, т.е. следует учи-
тывать корреляцию составляющих не-
определенности 

δQ

00

 и 

δQ

0

ε

. Расширен-

ная относительная неопределенность 
измерения tg

δ

 (

K

1

E

Q

0

ε

Q

00

η

) в предпо-

ложении равномерного распределения 
при доверительной вероятности 0,95 и 
равномерной малости составляющих 
выразится в соответствии с [11] как 

(8)

где 

 — коэффициент 

влияния 

i

-той входной величины 

u

i

 = 

K

1

E

Q

0

ε

Q

00

η

δu

i

 

= Δ

u

/

u

i

 — стандартная отно-

сительная неопределенность 

i

-той вход-

ной величины, задаваемая при расчете; 

r

c

 — коэффициент корреляции между 

Таблица 2. Коэффициенты влияния и результаты измерения 

ε

1

 полуволновых образцов 

с оценкой расширенной неопределенности 

δ

ε

 = 

U

ε

Материал

x

C

Δ

L

C

t

C

a

C

f

C

ε

2

ε

1

δε

, %

Полиэтилен высокого 
давления 

3,136

-1,57

-3,5×10

-5

4,17

5,74

-3,87

2,282

0,1

Кварцевое стекло КВ

3,065

-3,10

-0,008

7,05

10,1

-6,07

3,807

0,2

Керамика ВК 94 -1

3,032

-6,78

-0,021

13,2

20,0

-11,0

9,19

0,3

Керамика ВК 100 -1

3,116

-7,11

-0,001

13,8

20,9

-11,4

9,66

0,3


Page 6
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

94

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

Рис. 4. Зависимость 

K

1

E

 

(

x, ε

1)  

в резонаторе H014 

Рис. 5. Относительная неопределенность 

U

ε

 

при Δ(Δ

L

) = 0,01 мм, Δ

t

 = 0,003 мм

Рис. 6. Относительная неопределенность 

U

ε

 при 

Δ(Δ

L

) = 0,003 мм,  Δ

t

 = 0,01 мм

Рис. 7. Относительная неопределенность Utgδ 
при 

δQ

00

 = 0,02, 

δQ

0

ε

 = 0,02


Page 7
background image

«КАБЕЛЬ-news», декабрь-январь 2009/2010

95

Технологии расчетов

ÄÈÝËÜÊÎÌÅÒÐÈß

величинами 

δu

Q

0

δu

— 

коэффициент влияния, определяемый 
коррелированными входными данными 

Q

Q

00

. Коэффициенты влияния величин 

u

i

 = K

1

E

 

Q

0ε 

Q

00

η

 будут

С

K

 = –1, 

C

 = –(

Q

0

ε

K

1

E

tg

δ

)

–1

          

C

Q

0

 = 

η

(

Q

00

K

1

E

tg

δ

)

–1

C

η

 = –

C

Q

0

  

(9)

Оценки для относительных неопре-

деленностей  

δQ

0

ε

δQ

00

 собственных 

добротностей могут быть выражены 
через неопределенности 

δQ

ε

 

δQ

0

 на-

груженных добротностей 

Q

ε

, Q

0

 и пол-

ных коэффициентов связи резонатора 
с образцом 

β

ε

 и без образца 

β

0

В таблице 3 приведены значения 

коэффициентов влияния и результаты 
измерений tg

δ

 полуволновых образ-

цов с оценкой 

U

tg

δ

 по составляющим 

неопределенности из таблицы 1.

Результаты численного модели-

рования при различных значениях 

x

 

и 

ε

1

 показали, что неопределенность 

U

tgδ

(

x, ε

1

) также имеет осциллирующий 

характер по 

x

, достигая минимумов 

при 

x = π

 (2

q

 + 1)/2 и максимумов при 

x = qπ

 (рис. 7). Максимумы 

U

tg

δ

(

x, ε

1

убывают с ростом 

q

. Осцилляции 

U

tg

δ

(

x, ε

1

) обусловлены осцилляциями 

K

1

E

(

x

) (рис. 4), возрастающими с ростом 

ε

1

. Коэффициент заполнения входит в 

коэффициенты влияния множителем 

K

1

E

 и его максимумам соответствуют 

минимумы 

U

tg

δ

(

x, ε

1

). Это объясняется 

большей концентрацией энергии в 
образце и большими относительными 
потерями энергии (большим измене-
нием добротности резонатора) в этом 
случае, чем в минимумах 

K

1

E

. С умень-

шением tg

δ

 неопределенность его 

измерения монотонно возрастает. 

Часть экспериментальных иссле-

дований влияния ионизирующего из-
лучения на диэлектрические свойства 
полиэтилена и фторопласта, а также 
щелочно-галоидных кристаллов, с ис-
пользованием описанного метода, 
приведена в [13, 14].

Таким образом, метод цилиндри-

ческого резонатора с колебанием 

H

01p

 

при фиксированной частоте позволяет 
получать высокую точность измерения 

ε

 и tg

δ

. Его достоинствами являются: 

возможность измерений повышенных 
значений tg

δ

, однозначность процеду-

ры измерений (отсутствие мешающих 
резонансов, приводящих к ошибоч-
ным результатам) и возможность ис-
пользования генератора СВЧ с малой 
перестройкой частоты, необходимой 
только для измерения добротности 
резонатора.

Таблица 3. Значения коэффициентов влияния и результаты измерения tg

δ

 

полуволновых образцов с оценкой расширенной неопределенности 

δ

(tg

δ

) = 

U

tg

δ

Материал

C

K

C

Q

0

ε

C

Q

00

C

C

tgδ

×10

4

δ

(tg

δ

), %

Полиэтилен высокого давления

-1

-2,16

1,16

-1,16

1,58

2,6

4

Кварцевое стекло КВ

-1

-6,15

5,15

-5,15

5,63

0,9

13

Керамика ВК-94 -1

-1

-1,87

0,87

-0,87

1,28

9,3

3,5

Керамика ВК-100 -1

-1

-30,1

29,1

-29,1

29,6

0,3

68

Литература

1. Bussey H.E., Morris D., Zaltsman E.B. // 

IEEE Trans. Instrum. and Meas. 1974. V. IM-23. 

N 3, September. P. 236. 

2. Vanzura E.J., Geyer R.G., Janesic M.D. // 

NIST Technical Note 1354, 1993. P. 236.

3. Ni E., Stumper U. //Proc. IEEE. 1985. 

V.132. Pt. 4. N 1.

4. Cook R.J.//Proc. Conf. «IPC Sci. and 

Tech.»1973. P. 12.

5. Публикация МЭК 377-2-77.

6. ГОСТ 27496.2-87 Материалы электро-

изоляционные. Методы определения диэ-

лектрических свойств на частотах свыше 

300 МГц. Резонансные методы.

7. ГОСТ 8.544-86. ГСИ. Относительная 

диэлектрическая проницаемость и тангенс 

угла диэлектрических потерь твердых диэ-

лектриков. Методика выполнения измере-

ний в диапазоне частот 109 — 1010 Гц.

8. ГОСТ Р 8.623-2006. ГСИ. Относитель-

ная диэлектрическая проницаемость и 

тангенс угла диэлектрических потерь твер-

дых диэлектриков. Методики выполнения 

измерений в диапазоне сверхвысоких ча-

стот.

9. Егоров В.Н., Кащенко М.В. // Измери-

тельная техника. 2002. №1, С. 61—65.

10. Руководство по выражению нео-

пределенности. СПб.: ВНИИМ, 1999. 

11. Егоров В.Н., Кащенко М.В., Онхо-

нов Р.Р. // Измерительная техника. 2003. 

№10, С. 41—45.

12. Егоров В.Н. // Приборы и техника 

эксперимента. 2007. № 2. С. 5—38.

13. Романов Б.С., ЕгоровВ.Н., Костро-

мин В.В., Попов М.Ф. // Сб. «Вопросы 

атомной науки и техники», сер. «Физика 

радиационного воздействия на радиоэлек-

тронную аппаратуру», вып. 1—2, М.; 2006, 

С. 87—90.

14. Егоров В.Н., Костромин В.В., Рома-

нов Б.С. // Сб. «Радиационная стойкость 

электронных систем». СТОЙКОСТЬ. 2006. 

вып. 9. М.: МИФИ. С.173—174.


Читать онлайн

О достоинствах и преимуществах метода рассказывают специалисты ФГУП «ОКБ КП».

Поделиться:

«ЭЛЕКТРОЭНЕРГИЯ. Передача и распределение»